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              產品文檔:

              XTDIC三維全場應變測量分析系統

              提供測量范圍內的三維全場應變變形及位移測量

              產品特點

                系統優勢

                1、非接觸測量

                2、直接測量全場應變、位移、變形、形貌

                3、相關圖像數據可反復分析處理,以實現不同研究目的,而無須重復試驗,節約經濟和時間成本

                4、直接測量全場振幅、振動信息

                5、可用于實時監測

                6、試驗過程可追溯、可評估


                產品介紹

                新拓三維XTDIC采用高精度的數字圖像相關算法,為試驗者提供非接觸式動態全場三維應變及位移測量。


                DIC技術在室內室外的普通環境均可使用,應變測量范圍從0.005%-2000%以上,配合不同的圖像采集硬件,測量對象尺寸可以從幾mm2-幾十m2,更大測量幅面也可定制,理論上在此測量范圍內只要能獲取高質量圖像,即可進行精確的應變和變形測量。


                XTDIC三維全場應變測量分析系統可與雙目體顯微鏡技術結合,實現微小物體變形過程中表面的三維坐標、位移場及應變場的測量。


                • 技術參數
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